本公司各類主控芯片測試夾具，采用金屬座頭，探頭結構，性能穩定，歡迎來電咨
   flash ic測試座，各類bga/tsop等
lga測試座特點：
※通用性高，支持所有方案，能插在所有原來的測試架上用，與tsop共測
※大小兼容設計，只要換限位框，即可測試外形尺寸不同（12x17,13x17,14x18,12x20)的lga flash；
※lga測試座測試壽命可達10萬次以上，是yamaichi和okins同類lga socket壽命的10倍以上；并且探針可更換，維修方便，成本低；
※采用手動翻蓋式結構，操作方便；
※上蓋的壓板采用特殊結構，下壓平穩，保證ic的壓力均勻，不移位；
※高精度的定位槽，保證lga定位精確，效率高；
※整機24小時工作性能穩定可靠，是flash經銷商及u盤工廠好幫手