設(shè)備介紹：  

本設(shè)備采用先進(jìn)的圖像視覺(jué)檢測(cè)技術(shù)，對(duì)電子精密元器件堆件表面進(jìn)行檢測(cè)，主要檢測(cè)表面的斑點(diǎn)、凹坑、劃痕等缺陷。系統(tǒng)可根據(jù)設(shè)定指標(biāo)要求自動(dòng)進(jìn)行檢測(cè)，并對(duì)有缺陷部位進(jìn)行標(biāo)識(shí)。  

設(shè)備性能特點(diǎn)：  

 自動(dòng)完成零件動(dòng)與相機(jī)獲取圖像同步：自動(dòng)檢測(cè)產(chǎn)品表面斑點(diǎn)、凹坑、銅點(diǎn)、劃傷等缺陷。根據(jù)需要選擇需要檢測(cè)的缺陷類(lèi)型。根據(jù)需要自主設(shè)定檢測(cè)缺陷大小。對(duì)不戶(hù)位置進(jìn)行定位，可控制貼標(biāo)設(shè)備會(huì)打印設(shè)備進(jìn)行標(biāo)識(shí)。對(duì)不良品圖像進(jìn)行自動(dòng)存礎(chǔ)，可進(jìn)行歷史查詢(xún)。自動(dòng)統(tǒng)計(jì);