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參數資料
| 型號： | WF5027B6-4 |
| 廠商： | Seiko NPC Corporation |
| 英文描述： | Crystal Oscillator Module ICs |
| 中文描述： | 晶體振蕩器模塊集成電路 |
| 文件頁數： | 14/21頁 |
| 文件大小： | 815K |
| 代理商： | WF5027B6-4 |
WF5027 series
SEIKO NPC CORPORATION —14
MEASUREMENT CIRCUITS
Measurement cct 1
Measurement parameter: I
DD
, I
ST
, Duty, t
r
, t
f
Note: The AC characteristics are observed using an oscilloscope on
pin Q.
Measurement cct 2
Measurement parameter: t
OD
XTN input signal: 1Vp-p, sine wave
C1: 0.001
μ
F
R1: 50
C
L
: 15pF
R
L
: 1k
Measurement cct 3
Measurement parameter: V
OH
, V
OL
XTN input signal: 1Vp-p, sine wave
VDD
VSS
XT
Q
X'tal
XTN
INHN
I
DD
I
ST
A
(Including probe
capacitance)
C
L
= 15pF
I
DD
: Open
I
ST
: Short
0.1
μ
F
I
DD
: Open
VDD
VSS
Q
XTN
INHN
Signal
Generator
R1
C1
V
DD
or
V
SS
R
L
C
L
0.1
μ
F
VDD
VSS
Q
XTN
Signal
Generator
50
0.001
μ
F
V
OH
V
OL
V
50
0.1
μ
F
V
S
V
V
OH
V
S
V
V
OL
V
S
0.1
μ
F
V
S
adjusted such that
V =
50
×
I
OH
.
V
S
adjusted such that
V =
50
×
I
OL
.
Measurement cct 4
Measurement parameter: V
IH
, V
IL
V
IH
: Voltage in V
SS
to V
DD
transition that changes the output state.
V
IL
: Voltage in V
DD
to V
SS
transition that changes the output state.
INHN has an oscillation stop function.
Measurement cct 5
Measurement parameter: I
Z
Measurement cct 6
Measurement parameter: R
UP1
, R
UP2
VDD
VSS
XT
Q
X'tal
XTN
INHN
V
IH
V
IL
V
0.1
μ
F
VDD
VSS
Q
INHN
I
Z
A
V
DD
or
V
SS
0.1
μ
F
VDD
VSS
INHN
V
IN
V
A
I
UP
V
DD
I
UP
V
DD
0.7V
DD
(V
IN
= 0V)
R
UP2
=
I
UP
R
UP1
=
(V
IN
= 0.7V
DD
)
0.1
μ
F
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